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显微透过率测量仪 TMS -Pro

能快速准确地测量各类平面、球面、斜面等光学元件的相/绝对透射率及曼透射测量,可用于实时显示单、多点波长透过率数据及指定波段平均透过率数据、实时显示半透波长及斜率等。适用于手机盖板IR孔、白油墨(半透白、均光白)、弧形边IR孔(2.5D 、3D)、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片光学元件等的透光率测量。

显微透过率测量仪 TMS -Pro
 
用途:
能快速准确地测量各类平面、球面、斜面等光学元件的相/绝对透射率及曼透射测量,可用于实时显示单、多点波长透过率数据及指定波段平均透过率数据、实时显示半透波长及斜率等。适用于手机盖板IR孔、白油墨(半透白、均光白)、弧形边IR孔(2.5D 、3D)、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片光学元件等的透光率测量。

特点:
1、 采用全角度采集全穿透式测量(积分球式)
2、 采用显微同轴共聚焦技术视频对孔,使定点测量更直观更精准
3、实时显示测量样品关注波长位置的透射率数据及半透波长监测,自动调整显示坐标范围,高效地进行批量样品检测及谱图对比分析。 
4、检测时间毫秒级:高性能探测器,可在0.3秒内时间重现性高的测定; 
5、可以自行定义测量的方案,同时设置判定标准,使检测更快速,结果更准确。
 
技术规格:
测量系统:单光束
测量方式:全角度采集全穿透式测量(积分球式)
检测器: Hamamatsu(薄型背照式FFT-CCD、美国进口)
检出限: 0.05%
光度准确性: <0.5%(400-1000nm)与标样比
光度重复性:<0.3%
波长检测范围:380-1100nm
信噪比(全信号):450:1
波长重复率:0.1nm
样品测试平台: X、Y轴可调
光源: 高功率卤素光源
光斑直径: <0.3mm(可扩展到0.1mm连续可调)
样品大小: ≥0.5mm
单次测量时间: ﹤0.3s
对焦方式: 数字相机视频对焦
物镜:10X
软件:Qspec Suite V1.0,可显示单、多点波长数据,可同时测量多孔进行综合判定,可手动和自动保存数据,自动统计所测产品批号总数、良品、不良品的数量及百分比并以报表的形式一键导出,超差报警提示,可根据用户标准校准机差;终身免费升级.
操作系统/接口:Win7, Win10/ USB2.0

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